1. Bayesian process monitoring, control and optimization
پدیدآورنده : / edited by Bianca M. Colosimo and Enrique del Castillo
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Process control--Statistical methods,Bayesian statistical decision theory.
رده :
TS156
.
8
.
B39
2007
2. Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors, Design and construction,Semiconductor industry, Production control,Electronic packaging,Production management
رده :
TK7871
.
85
.
R863
2001
3. Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Design and construction ، Semiconductors,Production control ، Semiconductor industry,، Electronic packaging,، Production management
رده :
TK
7871
.
85
.
R863
2001
4. Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductor--Design and construction,Semiconductor industr--Production control,Electronic packaging,Production management
رده :
E-BOOK
5. Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction,Semiconductor industry- Production control,Electronic packaging,Production management
رده :
TK7871
.
85
.
R863
2001
6. Statistical process adjustment for quality control
پدیدآورنده : Del Castillo, Enrique
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Statistical methods ، Quality control
رده :
TS
156
.
D388
2002